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X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-7100可對(duì)BGA芯片進(jìn)行X光射線檢測(cè)
2020-11-27 17:41:50

【瑞茂光學(xué)】X-RAY芯片檢測(cè)設(shè)備 X-7100高解析度X射線檢測(cè)儀采用高解析度增強(qiáng)屏和密封微焦X射線管組合的結(jié)構(gòu),通過(guò)X射線非破壞性透視檢查,實(shí)時(shí)觀察到清晰的圖片。另外,強(qiáng)大的軟件測(cè)量功能使得檢查效率大大提高。除此之外,通過(guò)安裝CNC組件,可以使檢測(cè)過(guò)程變得更輕松、快捷。全數(shù)碼X射線檢查機(jī)X-7100全系采用數(shù)字平板探測(cè)器及X射線集成數(shù)碼影像截取技術(shù)。

X-RAY芯片檢測(cè)設(shè)備X-7100進(jìn)行芯片檢測(cè)實(shí)圖成像。

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BGA芯片檢測(cè)成像樣圖(1)

1.jpg

芯片金屬線檢測(cè)成像樣圖(2)


X-RAY芯片檢測(cè)設(shè)備X-7100,不光能進(jìn)行芯片檢測(cè),同時(shí)還可應(yīng)用于IGBT半導(dǎo)體檢測(cè)、鋰電池檢測(cè)、汽車零部件進(jìn)行X光射線檢測(cè)。


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