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相信大家都知道，日常生活中我們常見的家用的電器，比如手機、電腦、冰箱、電視等等，都含有IC芯片。由于IC芯片比較精密主要由微型電子器件或部件構成。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構;其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。
但越精密的電路，檢測難度就越復雜。當前芯片檢驗的常用方法通常是將芯片層層剝開，再用電子顯微鏡對每一層表面進行拍攝，這樣檢測方式對芯片具有極大破壞性，此時，X-RAY無損檢測設備可助一臂之力。
X-RAY檢測設備主要是采用的X光檢查機中產生的X射線照射芯片表面，X射線的穿透力很強，能夠穿透芯片后成像，芯片內部結構斷裂情況一覽無余，使用X光對芯片檢測的最主要特點是對芯片本身沒有損傷，因此這種檢測方式也叫無損探傷。
芯片是一種較為精密的電子元器件，對其進行質量檢測的設備精度要求較高，此款X-ray無損檢測設備X-7100在電子電路行業檢測多年，是一款性能穩定，功能強大的檢測設備。廣泛應用于PCB板、SMT、LED、半導體元器件和鑄件加工等行業。
X-ray檢測設備滿足客戶對工件檢測的各種要求，同時可以根據客戶需求，大容量高分辨率高放大倍率的全新檢測系統，實現三維重建CT功能。自動圖像過濾，成像快，效率高，輸入角度值自動旋轉到需要的角度，精密步進移載定位及旋轉機構，檢測角度任意調整，保證取圖質量及檢測精度。
