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芯片是由大量的微電子元器件如電阻、電容等組成的。它常見于電腦，電視、手機中。由于芯片比較精密主要由微型電子器件或部件構成，如今的芯片所有元件在結構上向著微小型化、低功耗和高可靠性方面發展。但越精密的電路，檢測難度就越復雜。
芯片的檢測方式分為很多種，X-RAY檢測是其中非常重要的一種檢測方式。X-RAY芯片檢測技術可以對整個芯片進行掃描，也可以對一個特定的點進行放大以進行觀察。事實上，X-RAY芯片檢測技術的主要用途之一是尋找芯片與設計不符的錯誤點。芯片檢測所用的X-RAY設備是專門透視檢測芯片內部缺陷的一款無損檢測設備。
那么，X-RAY檢測設備為何會成為電子元器件生產廠家必不可少的一種檢測設備？這是因為，X-RAY檢測設備主要依靠內部X光管發射X射線照射芯片成像，X射線同可見光一樣能使膠片感光。當X射線通過芯片時，因芯片各組織的密度不同，對X射線量的吸收不同，膠片上所獲得的感光度不同，從而獲得X射線的影像。它的檢測精度達到了微米級別，高精度的X-RAY芯片檢測為芯片的整體質量提供了有力的保證。
瑞茂光學生產的X-RAY檢測設備_X-7100_無損檢測設備，可以無損檢測低于5微米的缺陷，它的X-RAY平板探測器可旋轉60度，允許最大50度視角檢測樣品，并具備高清成像系統，可將成像放大1000倍。 而且它擁有410*430mm的載物臺，可容納大量各種尺寸的樣品，檢測的重復精度高，操作簡單，方便維護，使用壽命長，深受芯片生產廠家的信賴。
