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XF-3000 涂層分析+ROHS檢測一體分析儀

空間分辨率：5nm，（5ppm）像素矩陣：185*185px 旋轉/傾斜角度：45°

XF-3000 涂層厚度分析儀是一款面向鍍層、膜厚、涂層行業厚度無損檢測的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于涂層厚度產品質量的管理

功能介紹

功能	XF-3000 涂層厚度儀是一款用戶界面友好的臺式光譜分析儀器，為滿足用戶的多種使用需求，專門配置了手動XY軸工作臺用于精確定位。
	本型號光譜儀的射線發生裝置和Fast SDD探測器均裝配于儀器下部，待測樣由中置薄膜承托，射線光斑均作用于樣品底面，最小光斑可聚至0.1mm。
	得益于“樣品腔盡量大，整機盡量小”的RMM設計理念，本型號光譜儀可完美支持多尺寸大工件測試。
	所有的測試分析過程，均有加載Smart FP 算法的定制軟件收錄呈現，測試結果可經過統計控制臺多向溯源和抄送。
	作為專業射線類產品，XF-P3 測試性能完全滿足GB/18871-2002、XF-3000系列、ASTM-B568等國際通行標準。型式許可亦符合《中華人民共和國放射性污染防治法》。RMI-2022 輻射產品管理辦法。

規格參數

主要部件	參數名稱	XF-3000S	XF-3000B
精度下限	檢測精度	5nm，（5ppm）	100nm，（100ppm）
精度下限	層數極限	6層	2層
X射線裝置	初級射線方向	從下往上	從下往上
	高壓電	50KV/1mA數字高壓電源	50KV/1mA數字高壓電源
	X射線管	50KV/1mA	50KV/1mA
	窗口材料	鈹窗	鈹窗
	靶材	MO	MO
	焦點	? 0.1mm	? 0.1mm
	獨立程控準直器3	0.1mm×0.2mm / 0.2mm×0.5mm / ?1.0mm	0.1mm×0.2mm / 0.2mm×0.5mm / ?1.0mm
	獨立程控濾光片3枚	空氣濾光片、鎳鈦雙層、高純鋁	空氣濾光片、鎳鈦雙層、高純鋁
X熒光探測	探測器類型	RMI 進口SDD探測器	RMI 進口SDD探測器
	成像面積	10MM*10MM	10MM*10MM
	感光單元尺寸	18UM	18UM
	像素矩陣	185*185	185*185
	SDD 傾斜角度	45度	45度
	探測下限	小于5ppm（5nm)	小于5ppm（5nm)
電?參數	輸入電壓	交流100～240V，50Hz	交流100～240V，50Hz
	額定功率	<150W	<150W
	噪音	30dB	30dB
型式參數	產品尺寸	467mm x 345mm x 336mm	467mm x 345mm x 336mm
	產品包裝尺寸	770mm x 510mm x 400mm	770mm x 510mm x 400mm
	毛重	50 Kg	50 Kg
	電源/功率	AC110-220V50-60HZ 1200W	AC110-220V50-60HZ 1200W
環境要求	溫度	15℃～31℃	15℃～31℃
環境要求	濕度	< 70%（不結露）	< 70%（不結露）
樣品定位	樣品腔尺寸	306mm x 248mm x 124mm	306mm x 248mm x 124mm
	圖像協助	超高清CCD攝像頭（內置紅點視野）	超高清CCD攝像頭（內置紅點視野）
	LED光源	可調節亮度	可調節亮度
	支持配件	固定平臺	固定平臺
	XY雙軸行程	5mm*5mm	5mm*5mm
計算單元	內置工控電腦	INTEL NUC 嵌入式	INTEL NUC 嵌入式
	XF軟件版本	V2.1.0	V2.1.0
	系統固件版本	V8.10(C01)	V8.10(C01)
	DSP固件版本	V6.10	V6.10

應用領域

應用范圍：	具體領域：
防護性鍍層分析厚度和濃度	一般用于防止金屬零件的腐蝕，通常的鍍鋅層、鍍鎘層和鍍錫層屬于此類組成
裝飾性鍍層分析厚度和濃度	一般用于日用品及機電產品，如鋼鐵基體，銅基體，銀鍍層上鍍金或金合金等。
功能性鍍層分析厚度和濃度	一般用于修復和制造的工程鍍層等
電鍍藥液的成分含量	電鍍液主要包括主鹽、導電鹽、緩沖劑、絡合劑、添加劑等
DACROMET工藝檢定	簡稱達克羅、達克銹、迪克龍。國內命名為鋅鉻涂層，是一種新型的耐腐涂層。