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設備展示
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X-160-M 鑄件X射線檢測系統
X-160-M 鑄件X射線檢測系統
空間分辨率:100μm 像素矩陣:3072*3072px 旋轉/傾斜角度:60°

X-160T-M一款為鑄造業無損探傷而制造,搭配160kV電壓的X-RAY光管具備超強X-RAY穿透能力,能檢測更厚的壓鑄件缺陷

功能介紹

壓鑄件專用X-RAY設備X-160T-M是一款為鑄造業量身打造的X-RAY設備,搭配160kV電壓的X光管具備超強X-RAY穿透能力能檢測更厚的壓鑄件缺陷,同時載物臺支持360°旋轉檢測樣品。

規格參數
Model:X-160T-M
X-ray 光管類型封閉式
空間分辯率

100μm

光管電壓160KV
光管電流

3mA

放大倍率15x
成像尺寸430*430mm
圖像精度139um
平板像素分辯率 

3072*3072PX

檢測范圍

420*420mm

最大載物重量

25kg

機器尺寸

1440*1400*1936mm(L*W*H)

機器重量

1300kg

操作系統WINDOWS 10
電源/功率AC110-220V 50-60HZ 1200W
輻射安全測試<1 uSV/H


應用領域
NDT內部檢測 0.2mm

鋼瓶檢測

圖片關鍵詞圖片關鍵詞


X-6100 X-RAY檢測領域廣泛,通常應用于電子元器件的內部結構檢測,常見氣泡空洞率測量、電路短路斷路、焊點缺焊少焊漏焊、內部存在異物裂縫等.....
X-7100 X-RAY檢測領域廣泛,通常應用于電子元器件的內部結構檢測,常見氣泡空洞率測量、電路短路斷路、焊點缺焊少焊漏焊、內部存在異物裂縫等.....
半導體X-RAY檢測設備 X-7900可以檢測半導體3um的缺陷、一鍵測量汽包大小及空洞率,并可以將缺陷幾何放大400X,檢測圖像系統放大2500X。
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